ძებნა

A Scanning Electron Microscopy (Sem) System Equipped With Fib, 3D-Ebsd, 3D-Eds Detectors And A Spectrometer For The Simultaneous Measurement Of Spectra For Different Energies, In Order To Analyze Light Metallic Elements Including Lithium (Li)

წინადადებების მოთხოვნა

ზოგადი ინფორმაცია

   ნოემ 4, 2025
   სლოვაკური
   სხვა
   გამოქვეყნებულია: ნოემ 4, 2025

თავდაპირველი ტექსტი

Systém skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) vybavený FIB, 3D-EBSD, 3D-EDS detektormi a Spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energie, za účelom analýzy ľahkých kovových prvkov vrátane lítia (Li)




Ústav materiálového výskumu SAV



Skenovacie elektrónové mikroskopy
Košický kraj

03.11.2025

















EVO




Späť...
გაწევრიანების ვარიანტები

ბაზისური

სრული

კორპორაციული

$550/year

$1000/year

ხარჯი მოთხოვნითი

ყიდვა ყიდვა დაგვიკავშირდით
გთხოვთ გაითვალისწინოთ, რომ ეს შეტყობინება მხოლოდ თქვენთვისაა.
ჩვენ მაქსიმალურად ვცდილობთ, რომ ჩვენს ვებ-კვანძზე განთავსებული ინფორმაცია იყოს ზუსტი და განახლებული, ამავე დროს არ ვიძლევით გარანტიას, რომ მოცემული ინფორმაცია დაზღვეულია შეცდომებისაგან.
თუ თქვენ გაქვთ რაიმე შემოთავაზება ამ განაცხადის განახლებასთან/შესწორებასთან დაკავშირებით, გთხოვთ შეგვატყობინოთ.