Üldandmed NB! Tähtpäevad kuvatakse kasutaja arvuti ajavööndi järgi. Hanketeatel on tähtpäev kuvatud kohaliku aja järgi ja ajavöönd on märgitud.
Hanke nimetus: ⁠
Ioonkiirega skaneeriva elektronmikroskoobi ostmine Hanke nimetus (mitteametlik tõlge EN): ⁠
Purchasing focused ion beam scanning electron microscope (FIB-SEM) Seisund: ⁠
alustatud Hanke lühikirjeldus: ⁠
Käesoleva hankemenetluse esemeks...